Espectrofotómetro EDXRF

Cada segundo cuenta para el proceso y el control de calidad. Los resultados de las pruebas se necesitan con urgencia desde el momento en que se recibe la muestra.

5E-XRF2500 está equipado con una interfaz simple e intuitiva que le permite cargar muestras y obtener resultados de alta calidad en segundos con un simple toque del botón iniciar.

En comparación con la tecnología de análisis AAS, AFS, ICP e ICP-MS, no es necesario que XRF2500 disuelva y digiera muestras, ni que utilice reactivos químicos.

CARACTERÍSTICAS

• Puede analizar todos los elementos de Na-U.
• Rango de concentración: ppm-100%.
• Segmentos de aplicación: Fósforo en carbón y análisis de composición de cenizas de carbón (Na₂O, MgO, Al₂O₃, SiO₂, P₂O₅, SO₃, K₂O, CaO, Fe₂O₃, etc.).
• Cemento, RoHS, minería geológica, polímero plástico, petroquímica, metal, protección ambiental, medicina, arte arqueológico, alimentos y cosméticos.
• Aplicable para métodos por ceniza o COALP (para determinación de fósforo).

ESPECIFICACIONES

• Tipo de muestra: Polvo, Partícula, Soluciones, Sólido, etc.
• Rotación de la muestra: aumenta el área de prueba girando la muestra para mejorar la repetibilidad y la precisión.
• Tubo de X-RAY: Materiales objetivo opcionales.
• Potencia máxima: 50W.
• Voltaje máximo: 50KV.
• Corriente máxima: 1mA.
• Detector: Detector de deriva de silicio VITUS (o VITUS LE). Resolución de energía: 127eV FWHM @ MnKα. Tasa de conteo: 100000cps. Enfriamiento Peltier.
• He sistema: El sistema de fregado con helio incorporado mejora el rendimiento de las pruebas de muestras de polvo.
• Sistema de protección de contaminación: Sistema integrado de protección del detector y del tubo de rayos X para evitar fugas de muestras líquidas, caída de partículas de muestras sólidas y daños al detector y al tubo de rayos X por el polvo.
• Sistema de bomba: La muestra de la tableta se mide en modo de vacío y no consume helio.
• Radiación Segura: Conforme a GBZ115—2002. Estándares de protección radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X.
• Dimensiones: 690×630×405mm.